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XRF荧光光谱仪元素标准膜

XRF荧光光谱仪元素标准膜

简要描述:奥富森提供的XRF薄膜标准样品综合了多种高真空镀膜技术进行制备;具有膜层厚度控制精确,厚度均匀,性能稳定等优点,元素纯度可达99.9%以上;同时综合ICP和XRF等检测技术,可精确标定薄膜标样的负载量。
《HJ 830-2017 环境空气颗粒物中无机元素的测定波长色散-X射线荧光光谱法》以及《HJ 829-2017 环境空气颗粒物中无机元素的测定能量色散-X射线荧光光谱法》均要求使用薄膜标样。

产品型号: B36

所属分类:实验室耗材

更新时间:2024-11-02

详细说明:

奥富森提供的XRF薄膜标准样品综合了多种高真空镀膜技术进行制备;具有膜层厚度控制精确,厚度均匀,性能稳定等优点,元素纯度可达99.9%以上;同时综合ICPXRF等检测技术,可精确标定薄膜标样的负载量。

HJ 830-2017 环境空气颗粒物中无机元素的测定波长色散-X射线荧光光谱法》以及《HJ 829-2017 环境空气颗粒物中无机元素的测定能量色散-X射线荧光光谱法》均要求使用薄膜标样建立仪器的工作曲线。

XRF薄膜标准样品分SL(0.5-2μg/cm2)VL(3-5μg/cm2)L(15-25μg/cm2)R(40-60μg/cm2)H(80-120μg/cm2)五个负载量系列,其他负载量的产品可根据客户实际需求定制。

可供应的XRF薄膜标准样品的元素如下(可在表格内打√选择样品):

元素

SL

VL

L

R

H

元素

SL

VL

L

R

H

Na (NaCl)

Co

Mg (MgF2)

Ni

Al

Cu

Si (SiO2)

Zn (ZnTe)

P (GaP)

As (GaAs)

S (CuSx)

Se

Cl (NaCl)

Sr (SrF2)

K (KCl)

Br (CsBr)

Ca (CaF2)

Cd (CdSe)

Sc (ScF3)

Ba (BaF2)

Ti

Pb

V

Sn

Cr

Sb

Mn

In

Fe

Mo

Ag

Hg (HgTe)

可提供超纯铝杯用于XRF测定大气颗粒物的辅助设备,用以消除或减小合金材料样品杯对样品结果的影响;采用*标准样品研究所提供的湖南重金属污染标准土壤样品,参考NIST 2783标样制备方式研制成功混合元素薄膜样品,可用于XRF分析方法的验证以及XRF实验室日常质控工作。

XRF薄膜标准样品的安装形式:

  1. 安装环尺寸(厚度为1.5mm的亚克力玻璃)

代码

外径(mm)

内径(mm)

25

25

17

32

32

25

36

36

29

47

47

39

      *36号尺寸。

方形:

      50x50mm方形尺寸,内置ø32mm的圆环,代码50

  1. 支撑膜材料

代码

支撑膜材料

备注

N

Nuclepore® polycarbonate

气溶胶多孔膜

M6.3

6.3μm厚度麦拉膜(Mylar)

M3.5

3.5μm厚度麦拉膜(Mylar)

  • M6.3型材料。

B

A

镀膜方式:

代码

镀膜位置排列

A

安装环-元素膜-支撑膜

B

元素膜-支撑膜-安装环






 

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